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F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米，可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測(cè)量點(diǎn).只需具備基本電腦技能，就可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方。

薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。

AVI-600系列 主動(dòng)式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動(dòng)隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對(duì)升級(jí)和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是不錯(cuò)的選擇。

F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x利用光譜反射原理，可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測(cè)試光斑直徑因而可以快速容易的測(cè)量其他膜厚測(cè)試儀器不能測(cè)量的材料膜層。而且能在幾分之一秒內(nèi)完成。

F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測(cè)量點(diǎn)。小尺寸的測(cè)量光斑允許測(cè)量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測(cè)量性能。

F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。