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三溫分選系統(tǒng)是集成電路半導(dǎo)體行業(yè)的系列化測控解決方案。 承載了“賦能制造業(yè)，讓制造更簡單”的企業(yè)愿景。產(chǎn)品線覆蓋了從手動到自動、從芯片到模塊的全場景應(yīng)用，滿足客戶不同需求。
SD6200采用相同架構(gòu)，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測試部分即能獨立工作，以低成本提供射頻測試能力，又能與數(shù)?；旌霞呻娐窚y試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機(jī)臺，為市場提供高性能的混合、射頻測試系統(tǒng)。
采用相同架構(gòu)，充分利用了數(shù)模混合集成電路中的現(xiàn)有資源，使得射頻測試部分即能獨立工作，以低成本提供射頻測試能力，又能與數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)整合為統(tǒng)一機(jī)臺，為市場提供高性能的混合、射頻測試系統(tǒng)。
SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試，將老化與電參數(shù)測試結(jié)合，在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
老化測試系統(tǒng)提供對X波段大功率微波管的高低溫動態(tài)老化，該器件額定電壓70V、脈沖電流140A、功率為1500W和4500W、激勵的射頻信號為8-10GHZ。
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